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Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上是一種用于宏觀觀察的照明裝置高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓
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日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓
日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓
是宏観観察用的照明設(shè)備,可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
1. 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源,具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構(gòu)造,可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
YP-150I???照度範(fàn)囲 φ30
YP-250I???照度範(fàn)囲 φ60
?。╕P-250I的通風(fēng)機(jī)可選択螺旋式風(fēng)扇或管道通風(fēng)機(jī)形)
特點
日本YAMADA山田光學(xué)YP-150I鹵素光源裝置
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上,是一種用于宏觀觀察的照明裝置
高亮度鹵素射鏡
照射范圍 30mmφ 60mmφ
照度 ≥ 400,000 lx ←
照射距離 140mm 220mm
光源 鹵素?zé)?/span>(使用冷鏡) ←
燈型 JCR15V150W ELC24V250W
壽命 5W小時
色溫 3,400K° ←
色調(diào) 白 ←
環(huán)境溫度 0~40℃ ←
冷卻方式 強(qiáng)制排氣 ←
連接 12φ 20φ
尺寸 100(W)×245(H)×116(D)mm 120(W)×388(H)×130(D)mm
重量 1.7 ㎏(17N) 2.7 ㎏(27N)
輸入電壓 AC100V 50/60Hz AC100V 50/60Hz
功率 200W 350W
變化范圍 AC5~12V AC10~22V
環(huán)境溫度 0~40℃ ←
冷卻方式 自然 強(qiáng)制排氣
尺寸 140(W)×94(H)×185(D)mm 135(W)×72(H)×260(D)mm
重量 2.4 ㎏ 2 ㎏
其他 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)
腳踏開關(guān)線:3m
(底部金屬連接器) 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)<span none"="">
日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
日本山田光學(xué)YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
山田光學(xué)YP-250I
C
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