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可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 光學(xué)板光源YAMADA粒子光源YP-250ID裝置現(xiàn)貨

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