計(jì)測網(wǎng) INTECS目視檢查 UIH-1C超亮照明裝置

當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。
*1：半導(dǎo)體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等！
計(jì)測網(wǎng) INTECS目視檢查 UIH-1C超亮照明裝置

產(chǎn)品型號：15V 150W
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2024-08-13
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計(jì)測網(wǎng) INTECS目視檢查 UIH-1C超亮照明裝置

品牌介紹：

點(diǎn)火監(jiān)視裝置（TAM系列）、超高亮度照明裝置（UIH-1、UIH-2、UIH-3）、半導(dǎo)體晶片截面形狀測量裝置（WEMS、VSSW）等測量裝置制造現(xiàn)場。

垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)控裝置、超高亮度照明裝置

垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)測裝置

這是為了防止焚燒廠的垃圾坑（bunkas）發(fā)生火災(zāi)而開發(fā)的紅外線監(jiān)控裝置。通過與自動水炮聯(lián)動，可以實(shí)現(xiàn)高精度的自動瞄準(zhǔn)水炮。

超亮燈光設(shè)備

這是一種非破壞性測量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。您可以測量晶圓邊緣的尺寸、角度和半徑。

霧度檢查用照明裝置

本頁包含霧度檢查照明設(shè)備的說明以及產(chǎn)品和維修查詢的聯(lián)系信息。

晶片截面形狀測定裝置

這是一種非破壞性測量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置?？梢詼y量晶圓邊緣尺寸、角度和半徑。

*1 為了保護(hù)燈泡，即使在主電源開關(guān)關(guān)閉的情況下

　　　，仍可通過風(fēng)扇保持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 或更低的功能。

UIH-1C 外形尺寸 (PDF)

UIH-1C 使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列規(guī)格說明書 (PDF)

燈額定值	15V 150W
設(shè)計(jì)照射直徑和距離	距燈筒頂端180mm處直徑40mm
最大亮度	上方照射直徑中心約600,000勒克斯
500,000勒克斯照射直徑	約φ45mm
雙直徑時(shí)的距離和亮度	360mm約150,000勒克斯
亮度偏差和可變寬度	最大亮度偏差：上限10%，下限20% 可變寬度10:1以上
最大亮度燈壽命	50+小時(shí)
半亮度燈泡壽命	超過800小時(shí)
調(diào)光方式	可控硅相位控制
燈室內(nèi)部冷卻	使用風(fēng)扇強(qiáng)制風(fēng)冷的方法
燈箱內(nèi)發(fā)熱監(jiān)測	沒有任何
燈箱冷卻維護(hù)（*1）	沒有任何
電源	AC100V變壓器類型
毛重	約7公斤

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