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產(chǎn)品展示/ Product display
當(dāng)高強(qiáng)度光照射到物體上時(shí)(*1) ,會(huì)發(fā)生廷德?tīng)柆F(xiàn)象,因此可以輕松目視確認(rèn)表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1:半導(dǎo)體晶圓、掩膜玻璃、硬盤(pán)、液晶面板、透鏡等!計(jì)測(cè)網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素?zé)裟恳暀z查
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品牌介紹:
點(diǎn)火監(jiān)視裝置(TAM系列)、超高亮度照明裝置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半導(dǎo)體晶片截面形狀測(cè)量裝置(WEMS、VSSW)等測(cè)量裝置制造現(xiàn)場(chǎng)。
垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)控裝置、超高亮度照明裝置
垃圾坑點(diǎn)火監(jiān)測(cè)裝置
這是為了防止焚燒廠的垃圾坑(bunkas)發(fā)生火災(zāi)而開(kāi)發(fā)的紅外線監(jiān)控裝置。通過(guò)與自動(dòng)水炮聯(lián)動(dòng),可以實(shí)現(xiàn)高精度的自動(dòng)瞄準(zhǔn)水炮。
超亮燈光設(shè)備
這是一種非破壞性測(cè)量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置。您可以測(cè)量晶圓邊緣的尺寸、角度和半徑。
霧度檢查用照明裝置
本頁(yè)包含霧度檢查照明設(shè)備的說(shuō)明以及產(chǎn)品和維修查詢的聯(lián)系信息。
晶片截面形狀測(cè)定裝置
這是一種非破壞性測(cè)量半導(dǎo)體晶片的截面形狀和尺寸的裝置??梢詼y(cè)量晶圓邊緣尺寸、角度和半徑。
*1 為了保護(hù)燈泡,即使在主電源開(kāi)關(guān)關(guān)閉的情況下
,仍可通過(guò)風(fēng)扇保持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 或更低的功能。
UIH-1C 外形尺寸 (PDF)
UIH-1C 使用說(shuō)明書(shū) 說(shuō)明書(shū) (PDF)
UIH 系列使用說(shuō)明書(shū) 說(shuō)明書(shū) (PDF)
UIH 系列規(guī)格說(shuō)明書(shū) (PDF)
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